Аналитический сканирующий электронный микроскоп TESCAN MIRA

TESCAN MIRA — универсальный сканирующий электронный микроскоп

Микроскоп четвёртого поколения с катодом Шоттки предназначен для качественного анализа и мониторинга поверхностей на субмикронном уровне. Ключевое преимущество — возможность одновременного отображения морфологии поверхности и её химического состава в одной программе Essence, что существенно облегчает работу исследователя.

Основные особенности модели:
- In-Flight Beam Tracing: автоматическое управление параметрами пучка, обеспечивающее плавный переход между разными режимами без ручной настройки.
- Wide Field Optics: точное позиционирование объектов при любом масштабе без вспомогательной камеры.
- Простота эксплуатации: интуитивное ПО Essence подходит пользователям любого уровня подготовки.
- Безопасность манипуляций: система предотвращения столкновений (Collision Model) защищает оборудование и датчики при перемещении образцов.
- Дополнительные опции: улучшенные детекторы SE/BSE, технология низковольтового улучшения изображений BDT, интегрированные вакуумные системы для защиты чувствительных образцов.

Модификации:
Модельный ряд включает модификации MIRA LMS/LMU/GMS/GMU, различающиеся размером рабочей камеры и возможностями управления уровнем давления в условиях низкого вакуума.

Этот прибор оптимален для решения задач повседневного контроля качества продукции, анализа дефектов и научных исследований в области материаловедения.

 

Информация для заказа

Область использования: Сканирующие электронные микроскопы TESCAN	Производство:	---
	Метод:
	Объем:	шт
	Кат. номер:	MIRA
Цена (с НДС 20%):	по запросу	В корзину
Наименование: Аналитический сканирующий электронный микроскоп TESCAN MIRA. Примечание: