Аналитический сканирующий электронный микроскоп TESCAN VEGA Compact

TESCAN VEGA Compact – производительный аналитический сканирующий электронный микроскоп (СЭМ) начального уровня. Представляет из себя компактный вариант исполнения хорошо известного микроскопа TESCAN VEGA. Благодаря компактной и упрощенной конфигурации, в которой оптимизированы функции обработки изображений и анализа состава, VEGA Compact становится экономически эффективным решением для лабораторий, где приоритетом является понимание основных отличительных особенностей образцов.

TESCAN Essence™

Настраиваемый графический интерфейс
Многопользовательский интерфейс с учетными записями с настраиваемым уровнем доступа
Панель быстрого поиска окон интерфейса
Отмена последней команды / Возврат последней команды
Отображение одного, двух, четырех или шести изображений одновременно в реальном времени
Многоканальное цветное живое изображение

Автоматические и полуавтоматические процедуры

Контроль эмиссии электронного пучка
Нагрев электронной пушки
Центрирование электронной пушки
Центрирование электронной колонны
Контроль вакуума
Автоматическая диагностика
Автоматизация всех этапов юстировки
Авто контраст/яркость, автофокус
In-Flight Beam Tracing™ (технология контроля и оптимизации рабочих характеристик и параметров пучка в реальном времени)

Программные модули Essence™ (* – опционально)

Измерения (расстояния; периметры и площади кругов, эллипсов, квадратов и полей неправильной формы; экспорт измерений для статистической обработки и другие функции), контроль допусков
Обработка изображений (коррекция яркости/контраста, улучшение резкости, подавление шумов, сглаживание и увеличение чёткости, дифференциальный контраст, коррекция тени, адаптивные фильтры, быстрое Фурье-преобразование и др. функции)
Предустановки
Гистограмма и шкала оттенков (LUT)
SharkSEM™ Basic (удалённый контроль, требуется для интеграции с детектором EDS стороннего производителя) *
3D-модель схемы коллизий
Площадь объекта (выделение на снимке объектов с близким уровнем серого и измерение площади, занимаемой этими объектами)
Позиционер (навигация по образцу в соответствии с шаблоном, в качестве которого может выступать СЭМ-изображение, изображение с оптического микроскопа, фотография образца)
Таймер выключения
CORAL™ (корреляционная микроскопия для удобной навигации и совмещения СЭМ-снимков со снимками сторонних устройств, например, с оптических микроскопов) *
Сшивка изображений (автоматический процесс накопления изображений и их сшивки) *
Обозреватель образца для создания видеоряда из серии СЭМ-снимков, автоматически накопленных через заданные промежутки времени *
TESCAN Flow™ (обработка СЭМ-данных в режиме offline) *

Информация для заказа

Область использования: Сканирующие электронные микроскопы TESCAN	Производство:	---
	Метод:
	Объем:	шт
	Кат. номер:	VEGA Compact
Цена (с НДС 20%):	по запросу	В корзину
Наименование: Аналитический сканирующий электронный микроскоп TESCAN VEGA Compact. Примечание: